微波相噪測量系統OE8000

OE8000利用微波光子技術，可自動測量低相位噪聲微波信號源，并給出射頻或微波信號源在特定頻段內（0-12GHz，其它頻段可選）任何工作頻率下的相位噪聲譜密度，這種基于零差法的測量系統在寬頻帶測量中性能優越，不需要低噪聲參考源。該系統操作簡單，速度快，精度高。

通過與NIST的測量系統進行比較，下圖中OE8000測量系統的互相關性能得到了校準。